测量光栅是一种利用光学干涉或光栅衍射原理，将机械位移或角度转换为可测量信号的精密测量装置。它既可提供高精度的位置反馈，也能实现高速动态测量，广泛应用于工业和科研领域。
原理方面，测量光栅主要有两种类型：线性光栅和旋转光栅。线性光栅由一组平行的光栅线组成，当光线照射到光栅上并经过光电检测器时，位移会引起光线干涉或衍射条纹的变化，通过电子系统转换为电信号，从而精确测量位置变化。旋转光栅则通过刻在圆盘上的环状光栅线，实现角度位移测量。现代测量光栅通常采用光电编码器方式，将光学信号数字化，直接输出高分辨率的位移或角度信息。
应用方面，测量光栅具有高精度、高分辨率、非接触测量、响应快和抗干扰等优势，常用于以下领域：
- 数控机床：为主轴或工作台提供高精度位置反馈，提高加工精度和重复性
- 三坐标测量机及精密测量仪器：精确测量工件尺寸、形位公差
- 机器人及自动化设备：实现精确定位和轨迹控制，提高操作精度
- 半导体及光学制造：芯片定位、光学元件安装和检测
- 科研实验：微小位移、振动或形变测量，如精密物理实验和光学干涉研究
测量光栅通过将微小机械位移转换为可测量信号，结合现代电子和数字化处理技术，能够实现高精度、高可靠性的测量与控制，是现代高精密加工和科研实验中不可或缺的工具。
