测量光幕（也称为测量光栅、测量光栅幕、光幕尺等）是一种非接触式测量设备，广泛应用于工业自动化、尺寸检测、包装、分拣等场景。其测量尺寸的原理主要基于以下几种原理：
一、遮挡式光幕测量原理（常见）
原理描述：
利用红外或激光发射器与接收器组成多个光轴，形成“光幕”。当被测物体进入光幕区域，遮挡部分光束，根据被遮挡的光轴数量或位置来计算物体的尺寸（宽度、高度、位置等）。
关键参数：
- 光轴间距（通常为1mm、2mm、5mm等）
- 被遮挡的光轴数量 = 物体尺寸 / 光轴间距
- 响应时间与精度由光轴密度决定
适用：
测量物体的外廓尺寸、边缘检测、孔洞检测、平面度检查等。
二、三角测量原理
原理描述：
利用发射光源（通常为激光）照射物体表面，反射光经过透镜进入成像传感器。根据反射点的位置变化与几何三角关系计算目标距离或尺寸。
特点：
- 可精确测量厚度、高度等单点尺寸
- 对物体表面反光、颜色要求较高
适用：
用于高精度点测量，如厚度、轮廓、高度差等。
三、光学编码原理（应用在高精光栅测量）
原理描述：
通过固定光栅与移动光栅间的相对位移，配合光电传感器读取干涉条纹或编码条纹，从而实现高精度长度测量。
适用：
- 精密位移与尺寸测量，如CNC测量系统、电子卡尺。
四、TOF（Time of Flight）飞行时间测距法
原理描述：
通过发射激光脉冲并测量其返回时间（飞行时间）来计算物体距离，再通过扫描得到轮廓尺寸。
优点：
- 可测量三维尺寸
- 适用于复杂轮廓物体
适用：
- 三维尺寸测量、体积测量、位置识别等
五、结构光/激光轮廓扫描法
原理描述：
将结构光（如激光线）投射到物体上，通过相机拍摄变形轮廓，根据几何反投影计算物体尺寸或三维轮廓。
适用：
- 大型物体的外形尺寸检测、板材平整度检查、缺陷检测等
六、应用拓展：通过测量光幕组合实现功能
- 2D/3D外廓测量： 双排光幕或十字光幕结合运动系统，实现二维或三维尺寸捕捉；
- 动态物体检测： 在流水线上测量长度、宽度、高度、位置、间隙；
- 分选与控制： 根据测得尺寸进行自动分拣或报警。
